美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學儀器業(yè)務。 DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、 zeta電位、流變學、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等，并可應用于多孔固體。

DT系列產(chǎn)品特性：

1.  能分析多種分散物的混合體 
2.  無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點 
3.  可適用于高導電（highly conducting）體系 
4.  可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 
5.  可精確測量無水體系 
6.  樣品的高濃度可達50％（體積比）,被測樣品無     需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量 
7.  具有自動電位滴定功能

DT-330性能參數(shù)：

1.      采用電聲測量技術(shù)進行zeta電位測量

2.      超聲探頭（Zeta Probe）直接測量原始樣品的zeta電位

3.      用于懸浮液和乳液表征；可以是水相，極性和非極性溶劑

4.      Zeta電位測量范圍：無限制；低表面電荷可低至0.1mV

5.      不用稀釋，測量原濃樣品：0.1～50％(體積百分數(shù))

6.      小樣品量： 2ml

7.      可測量動態(tài)遷移率和雙電層厚度（Debye Length， 德拜長度）

8.      通過Access數(shù)據(jù)庫進行數(shù)據(jù)管理

9.      可選自動滴定系統(tǒng)（DT-310）

10.    能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料

11.    包括高頻電導率探頭，可以通過利方法測量孔隙率

12.    通過電聲電振法可以測量多孔材料的表面zeta電位

13.    在用膠體振動電流 (CVI) 方式測定原濃體系的zeta電位時,輸入電導率值可計算雙電層厚度及粒子表面電荷密度